对比试样/块校准机构 纳克 对比试样/块校准
更新时间:2023-01-01 17:52:22
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对比试样校准测量结果差别大?
探头的放置方法对测量有很大影响,对比试样/块校准公司,在测量中应使探头与被测件外表坚持笔直。而且探头的放置时刻不宜过长,避免形成基体本身磁场的搅扰。测量时不要拖动探头,对比试样/块校准报价,由于这么不仅对探头会形成磨损,也不会得到的测量成果。别的,基体金属被磁化、基体金属厚度过小、工件曲率过小、测量基座外表有锈蚀、测量现场周围有电磁场搅扰等要素都有也许致使测量成果的反常,假如离电磁场十分近时还有也许会死机。
对比试样校准探头选择
超声波测厚仪探头根据性能和直径分类主要有7MHz/φ6mm探头、5MHz/φ10mm探头、2.5MHz/φ14mm探头、5MHz/φ8mm使用某一探头前应先在仪器上选择对应的探头按“ENTER”或“确认”键保存,下次开机时,探头为本次选择的探头。为保证仪器精度和稳定性,建议不要互换探头。仪器使用后,应擦去探头及仪器上的耦合剂和污垢。
对比试样校准测量前的准备
1. 对比试样的人工缺陷应使用酒精或C?H?O进行清洗,用滤纸擦干,保持表面清洁,无锈蚀、金属屑、毛刺、污染物等影响测量的缺陷。
2. 将对比试样人工缺陷平行放置在载物台上(必要时使用合适的工装予以固定),调整试样,对比试样/块校准机构,使人工槽长度或宽度方向与显微测量设备的X或Y轴平行。
3. 显微镜在合适的明场条件下,先用低放大倍数(10×或20×)找到人工缺陷位置,对比试样/块校准,再换至高放大倍数对试样聚焦,调整载物台及试样,使人工缺陷处于视场中央。 调整测量设备,使测量面聚焦清晰,选择测量点位。
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